XRF 添新成员

在工业制造过程中，常常需要在质量控制过程中对来料进行检查，以及对合金、金属材料进行分拣，手持式X射线荧光（XRF）分析仪是完成废料回收、基本PMI（材料成分辨别）、金属制造和贵金属识别等应用的理想工具。
奥林巴斯发布了VANTA Element-S手持式X射线荧光（XRF）分析仪。除具备了VANTA系列分析仪检测迅速、结果可靠、坚固耐用、连通性好等特性外，其操作便捷性更是堪比智能手机，可选配的无线连通性能让用户在使用过程中感受到了智能制造的强大威力。

在对材料进行分拣的过程中，庞大的数据量以及杂乱的材料常常导致检测的开展十分缓慢。VANTA Element-S分析仪配备硅漂移探测器（SDD），可对元素进行分析，并在几秒内对合金进行牌号辨别和分拣，能够快速有效地测量黑色金属、铝、铜、不锈钢、镍和金的含量。

完成对样品的检测之后，屏幕上会显示出清晰的牌号ID，以及镁、铝和硅等轻元素的比较信息。同时，分析仪的SDD探测器可以区分类似303和304不锈钢、6061和1100铝等相似的合金牌号，精准完成识别。