Ray-tec 8200 X荧光光谱仪

应用领域：

电子电气环保RoHS指令，无卤等元素分析
汽车机械ELV指令的有害元素检测分析
环境土壤等行业的重金属元素检测分析
钢铁有色冶金合金材料成分分析
油漆石油化工行业成分鉴别分析
电镀镀层厚度检测和成分检测

Ray-tec 8200 产品介绍

Ray-tec 8200配置高性能Si-PIN半导体探测器，达到高性能的分析效果

配置高性能进口Si-PIN探测器，与最佳的垂直照射的光路系统和多组复合滤光片的组合，实现了广范围的测试需求，高灵敏度的分析限。选配的SDD探测器能够实现从Na元素更低能量范围的测试要求。新型的Si-PIN探测器能量分辨率出色，可高达145ev，分析元素时减少了谱峰重叠带来的低能峰的物理干扰影响，提升了分析结果的准确可靠性；具有高速通道的脉冲分析器能够接收2万以上的数率的脉冲信息，增强了测试结果的重复可靠性；电子制冷无需担忧操作不慎带来的损害。

体验式的操作界面和简便的导航菜单，

从新视觉方面的思考设计的体验式的操作界面，从初级测试人员，到专业人员或高层品质管理者，都能得心应手的便捷操作，带来一种体验式的工作界面，更快捷，更简化。多种测试结果的输出格式，供应商物料的筛选统计，可视化的谱图缩放查看，明了的谱峰对比功能，常规的数据备份和的导入等等功能都可以满足在质量和品质部门对测试结果的判定便捷性。

1,从软硬件的设计上带来的便捷

通过热源分析和空气动力学，合理布局和降温，保证光管和探测器有效的散热，同时降低了噪音。



2,软件功能的可操作性

3,Ray-tec 8200其他技术参数
分析元素：探测器可分析Na~U之间元素。
分析时间：120s(支持自定义设置)。
配置RoHS检测分析模型，无卤分析模型。
软件界面简洁，模块化设计，功能清晰，易操作。
软件拥有数据一键备份，一键还原功能，数据导入导出记录等，保护用户数据安全。
分析方法：综合应用经验系数法、基本参数法。
多种数据算法，根据不同基体样品，配备不同算法，提高仪器测试精准度。
谱图叠加对比功能可以很方便的进行历史谱图与现测谱图的对比，从而发现来料的变化趋势，建立更高的风险防范能力。

4,产品增值服务
不同权限用户登录管理操作
可以选择管理员和操作员两种权限用户登录，系统自动记录不同人员所测试过的样品情况，以便追溯。
样品测试结果跟踪控件
可以对测试的样品进行分类选择，例如供应商，种类，拆分号等信息，结果统计时选择不同的信息可以归类统计，以便跟踪同一供应商或者同一物料的长期状态。
选配增加镀层厚度检测，确认供应商提交的镀层产品质量合格。

5,重要部件配置
采用Si-Pin分辨率高达145ev进口探测器。可以选配126ev分辨率的SDD探测器。
50kV1mA的激发电源，设计连续工作寿命5年以上。
50KV1mA的X射线发生器，铍窗厚度200um，设计连续工作寿命15000小时以上。
滤光系统为复合的5种滤光片组合，系统自动切换。
准直器为3种规格配置：1mm，3mm，5mm。

6,仪器其他规格参数
Ray-tec 8200改观尺寸：长宽高550×330×430mm；
样品腔尺寸：长宽高435×245×145mm；
Ray-tec 8200净重38kg；环境温度10-25℃；
额定功率280W；
样品支撑薄膜厚度6um；
电脑控制连接方式USB